发光二极管和探测器IC的热阻测量
2024-08-21 本文将讨论小外形SO-5封装的测量过程和热性能报告。工艺中采用了符合JEDEC标准的低电导测试板。该试验是用ACPL-M43TSO-5光耦合器在静止空气中进行的,环境温度约为23℃。 发光二极管和探测器IC的热阻测量。 图1展示了组件框图。本发明采用线性叠加理论,考虑了相邻芯片对单个芯片的热效应,得到了一个多芯片封装方案。首先加热一个芯子,当达到热平衡时记录下所有芯子的温度。再加热另一个芯子,记录下所有芯子的温度。当环境温度已知,晶片耗电量较小时,可计算出热阻。热阻力计算采用矩阵形式。
现代电子产品热阻介绍
2024-08-12随着设备变得更强大、尺寸更小巧紧凑,不同行业的工程师一直在电子产品的热管理上努力不懈。虽然有许多创意的解决方案可以藉由风扇、液体冷却器、导热管等高温导热器件将热能带走,但器件本身也有许多进展,从根本上优化热性能。为了帮助您更好地了解如何优化您的器件和热管理系统,本文概述电子产品中热性能的主要器件,并指出一些关键参数让您可以在器件上进行操作以优化散热系统灵活度和性能表现。 工作环境温度 在设计最终产品如IoT 设备、医疗工具或工业传感器器件时,几乎每个器件都将最高环境工作温度作为参数。最高环境温