近来，公司有一个功放的设计任务，需要做一款760-870MHz的8w的射频功率放大器，研读中兴功放设计，将一些功放设计中需要注意的事项记录下来。

要对功率放大器实现有效的保护，必须要知道引起功放失效的原因。功放的失效原因主要有以下几种：

静电击穿引起的失效。运输、接触导致静电作用于功率管的电极，产生击穿效应，使器件永久失效。该种失效的避免可以从器件、单板运输、操作等过程中，采取防静电措施来解决。解决方法有：

通过防止静电源的产生（比如保持空气的湿度），

通过接地使静电源的静电能够有效释放而防止积累，QST(矽睿)半导体IC传感器芯片

通过采取静电隔离措施。

过压引起的失效；过压会引起功率放大器的电极击穿或者处于不正常的工作状态。引起过压的情况有：

功放直流馈电电路部分出现元器件失效，引起过压；

与功放相关的控制和电源部分出现故障产生的关联效应，引起的过压；

过流引起的失效；功放的工作电流超出其正常工作电流而引起的失效。

过激励引起的失效；输入的功率电平超出功率放大器安全范围，会引起功放永久性失效。其结果是直接导致功放烧毁。

负载不匹配引起的失效。负载开路/短路或失配使功放输出端呈现比较高的驻波分布，使射频能量不能有效的传输出去，大部分能量转换成热，造成热积累，一方面降低了功放效率，另一方面，将造成功放热烧毁。

过热/过温引起的失效。由于散热不良或者环境温度过高引起功率器件失效。

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